光散射学报, 2003, 15 (2): 78, 网络出版: 2006-05-19  

用激光拉曼散射法测量电子线路板中元件的温度

Temperature Determination of Electronic Elements on the Circuit Boards by Raman Scattering
作者单位
1 中科院物理所光物理实验室,北京,100080
2 中科院电子学研究所,北京,100080
摘要
本文针对电子学中电子线路板上元器件通电后要精确测量其温度的问题引入了激光拉曼散射光谱技术,介绍了该方法在无损伤探测电子元器件(通各种电流后)表面温度方面的应用,为设计电子线路板散热问题提供了可参考的数据.并开拓了激光拉曼散射光谱技术在电子学中的应用,也同时为测量复杂结构物体表面温度提供了较好的方法.
Abstract
Especially for the accurately detection of the temperature on the surface of the complex electronic components, Raman scattering technique, a widely used method in physics, and its detection principle and the constitution of the detection system are introduced. The results give a valuable referable data for planning the radiation of electronic breadboard. This work expands the working field of Raman scattering technique, and provide a good method for detecting the temperature of the complex matters.

丁硕, 刘玉龙, 张锐, 李振明, 易华珍. 用激光拉曼散射法测量电子线路板中元件的温度[J]. 光散射学报, 2003, 15(2): 78. 丁硕, 刘玉龙, 张锐, 李振明, 易华珍. Temperature Determination of Electronic Elements on the Circuit Boards by Raman Scattering[J]. The Journal of Light Scattering, 2003, 15(2): 78.

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