光电子技术, 2001, 21 (1): 62, 网络出版: 2006-06-08  

紫外-近红外光谱响应测量分析系统

A Measuring and Analyzing System for Spectral Response Ranging from Ultraviolet to Near-infrared Band
作者单位
1 金华职业技术学院电子工程系,金华,321017
2 浙江大学信电系,杭州,310027
3 南京电子器件研究所,南京,210016
摘要
简述了一种比传统测试方法具有更高精度的紫外-近红外光谱响应测量分析系统.分析了系统的硬件构成及软件设计过程,并给出了实验测量结果.
Abstract
In this paper, we introduce and analyze the hardware constitution and software design of the optical spectral response measuring and analyzing system which has higher measuring accuracy than traditional ones. The measuring results are given, too.

王成福, 韩杰, 徐汉成. 紫外-近红外光谱响应测量分析系统[J]. 光电子技术, 2001, 21(1): 62. 王成福, 韩杰, 徐汉成. A Measuring and Analyzing System for Spectral Response Ranging from Ultraviolet to Near-infrared Band[J]. Optoelectronic Technology, 2001, 21(1): 62.

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