光电工程, 2006, 33 (8): 117, 网络出版: 2007-11-14   

子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法

Influence of tilt in stitching interferometry and how to eliminate it
作者单位
1 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所,江苏,南京,210042
2 中国科学院研究生院,北京,100039
摘要
在子孔径拼接检测大口径光学平面时,子孔径检测的数据往往存在倾斜,它将会导致拼接的数据沿着一个方向的倾斜累加,最后引入很大的倾斜误差.由于这种倾斜误差难以手动修正,通过实验,先用最小二乘法编制软件对所测子孔径数据进行消除倾斜处理,然后把去倾斜的子孔径数据进行拼接处理,对比消除倾斜的子孔径拼接结果与全口径直接检测结果,证明了去倾斜处理在子孔径拼接检测处理中的有效性.
Abstract

张明意, 李新南. 子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法[J]. 光电工程, 2006, 33(8): 117. 张明意, 李新南. Influence of tilt in stitching interferometry and how to eliminate it[J]. Opto-Electronic Engineering, 2006, 33(8): 117.

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