摘要

运用子孔径检测及拼接的方法可完成大口径光学件面形的干涉测量.为了能够减少子孔径拼接的误差累积与数据处理算法带来的精度影响,运用子孔径拼接的误差拼接算法,并通过对实验检测数据的处理,得到拼接结果与全孔径检测结果比较,面形波面峰谷值相差0.084(,均方根值相差0.01(,误差在Veeco光学干涉测量仪器的公差范围内.实验结果验证了误差均化算法可有效减少误差的传递与累积,实现子孔径拼接技术对大口径光学件的正确检测.

补充资料

中图分类号：TN247

所属栏目：先进光学制造技术

收稿日期：2005-09-19

修改稿日期：2005-12-09

网络出版日期：2006-06-30

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备注：程刚(1977-),男(汉族),安徽淮北人,在读博士生,主要研究工作是光学检测与智能控制.E-mail:cgwqx@163.com

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引用该论文

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程刚,蒋世磊. 大口径光学件误差均化拼接技术[J]. 光电工程, 2006, 33(6): 118-120

被引情况

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