光学 精密工程, 2005, 13 (2): 211, 网络出版: 2006-11-03   

纳秒激光等离子体光源的光谱测量技术

作者单位
中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033
摘要
提出了一种新的探测和测量激光等离子体软X射线源光谱强度的方法.此方法使用通道电子倍增器和定标过的硅光电二极管为探测器,前者是非标准探测器,后者为标准探测器.应用电荷灵敏前置放大器和峰值探测器测量探测器产生的电量,并以高分辨率的光谱仪为分光元件,在已知光栅效率、通道电子倍增器增益、硅光电二极管能量响应的条件下,给出了计算激光等离子体软X射线源在某一波长光谱强度的公式.
Abstract

尼启良. 纳秒激光等离子体光源的光谱测量技术[J]. 光学 精密工程, 2005, 13(2): 211. 尼启良. [J]. Optics and Precision Engineering, 2005, 13(2): 211.

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