光学 精密工程, 2003, 11 (4): 368, 网络出版: 2006-11-03   

原子力显微镜(AFM)在光盘检测及其质量控制中的应用

作者单位
西安交通大学,精密工程研究所,陕西,西安,710049
摘要
综述了原子力显微镜(AFM)在光盘质量检测中的应用.AFM能够在nm尺度上直接对光盘及其模板上的信息位几何结构的特征尺寸及其误差进行三维测量,从而可以建立生产工艺参数和信息位几何结构之间、信息位几何结构和盘片电气性能之间的关系,进而找出影响光盘质量的直接原因.用AFM进行光盘质量检测主要有三方面:盘片和模板表面的定性观测;信息位几何结构的半定量分析;信息位特征尺寸的统计分析.定性观测和半定量分析可以对盘片播放的高误差率、凹坑形态和块出错率、凸台形?捌浔砻娲植诙鹊炔问杏姓攵孕缘募觳?而信息位特征尺寸的统计分析则可以对信息位几何结构的关键参数进行面向生产过程的统计分析.所得结论表明AFM在光盘质量检测过程中具有独特的优势.
Abstract

景蔚萱, 蒋庄德. 原子力显微镜(AFM)在光盘检测及其质量控制中的应用[J]. 光学 精密工程, 2003, 11(4): 368. 景蔚萱, 蒋庄德. [J]. Optics and Precision Engineering, 2003, 11(4): 368.

本文已被 1 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!