光子学报, 2003, 32 (9): 1032, 网络出版: 2007-09-17   

用被动调Q激光器腔外倍频检验KTP的切割质量

Incision Quality Checking of Double Frequency Crystal KTP by a Passively Q-Switched Laser Extra Cavity Double Frequency
作者单位
中国科学院长春光学精密机械与物理所,吉林,长春,130022
摘要
以KTPⅡ类角度匹配倍频1064 nm激光的相位允许角为例,从理论上分析了它的倍频效率与相位允许角的关系,在实验上通过被动调Q激光器腔外倍频对其进行了检验,结果表明,这种方法可以精确地分析倍频晶体的切割角度偏差,并可推广到LBO、BBO等其它非线性晶体上.
Abstract

薛庆华, 郑权, 王军营, 姜耀亮, 叶子青. 用被动调Q激光器腔外倍频检验KTP的切割质量[J]. 光子学报, 2003, 32(9): 1032. 薛庆华, 郑权, 王军营, 姜耀亮, 叶子青. Incision Quality Checking of Double Frequency Crystal KTP by a Passively Q-Switched Laser Extra Cavity Double Frequency[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2003, 32(9): 1032.

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