光电工程, 2003, 30 (1): 56, 网络出版: 2007-11-14
光电成像导引头抗干扰性能评估方法
An Evaluation Method for Anti-interference Performance of Photoelectric Imaging Guiding Head
摘要
提出了一种新的光电(红外/电视)成像导引头抗干扰性能评估方法,该半实物仿真系统采用光电跟踪仪模拟导引头的探测器,导引头图像处理单元由DSP系统硬件实现.在线实时评估方式模拟了导引头的实际工作过程,离线事后评估可以改进导引头的图像处理算法.作为一个通用评估平台,此方案可以评价不同导引头的抗干扰性能.
Abstract
王学伟, 熊璋, 沈同圣, 周晓东. 光电成像导引头抗干扰性能评估方法[J]. 光电工程, 2003, 30(1): 56. 王学伟, 熊璋, 沈同圣, 周晓东. An Evaluation Method for Anti-interference Performance of Photoelectric Imaging Guiding Head[J]. Opto-Electronic Engineering, 2003, 30(1): 56.
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