光电工程, 2004, 31 (2): 1, 网络出版: 2007-11-14   

硅基光子晶体板的光刻和反应离子刻蚀

Lithography and Reactive Ion Etching of Silicon-Based Photon Crystal Slab
作者单位
1 中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室,四川,成都,610209
2 兰州大学物理科学与技术学院,甘肃,兰州,730000
摘要
用光刻和反应离子刻蚀的方法对硅材料光子晶体板的制作进行了研究.实验发现,与激光直写曝光相比,光刻曝光更有利于胶上图形的陡直度.扫描电子显微镜测试表明,反应离子刻蚀后得到深3.3μm,晶格周期10.95μm,占空比50%的孔状光子晶体板结构,孔的陡直度保持较好,基本满足设计要求.
Abstract

张磊, 张晓玉, 张福甲, 姚汉民, 杜春雷, 刘强, 潘莉. 硅基光子晶体板的光刻和反应离子刻蚀[J]. 光电工程, 2004, 31(2): 1. 张磊, 张晓玉, 张福甲, 姚汉民, 杜春雷, 刘强, 潘莉. Lithography and Reactive Ion Etching of Silicon-Based Photon Crystal Slab[J]. Opto-Electronic Engineering, 2004, 31(2): 1.

本文已被 1 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!