光电工程, 2004, 31 (10): 32, 网络出版: 2007-11-14
一种快速检测光滑半球表面缺陷的方法
A fast defect-detecting method for smooth hemispherical shell surface
摘要
针对具有镜面反射特性的光滑球面,提出了一种利用反光带的镜像变形来对表面缺陷进行快速检测的新方法.这种方法通过漫反射反光带增强图像上的缺陷信息,克服了背景噪声在图像处理中会造成较大误差的缺点,也降低了照明系统的设计难度.根据缺陷引起的反光带镜像变形获取缺陷特征,使图像处理软件的工作量大大减少.通过实验,给出了缺陷尺寸和扫描间隔等因素对检测结果影响的分布曲线,为合理提取缺陷尺寸提供了参考.实验表明,该方法的鲁棒性好、效率高,能识别0.5mm以上的全部缺陷,定位误差在+-1°之内.
Abstract
乐静, 郭俊杰, 朱虹, 方海燕, 邵伟. 一种快速检测光滑半球表面缺陷的方法[J]. 光电工程, 2004, 31(10): 32. 乐静, 郭俊杰, 朱虹, 方海燕, 邵伟. A fast defect-detecting method for smooth hemispherical shell surface[J]. Opto-Electronic Engineering, 2004, 31(10): 32.
PDF全文
