原子与分子物理学报, 2007, 24 (3): 471, 网络出版: 2009-04-22
Paul阱中囚禁的低能Ar2+离子与Ar的电荷转移
Charge transfer between trapped low-energy Ar2+ and Ar in a Paul trap
摘要
在Paul阱中产生并选择囚禁了单一的Ar2+离子,得到低能Ar2+与Ar的电荷转移速率系数为5.84(0.677)×10-10 cm3·s-1及其零氩气压强下的离子衰减速率为0.46 s-1,为下一步进行多电荷离子的亚稳态寿命研究提供了有价值的实验参考数据.
Abstract
李俊, 陈亮, 李交美, 高克林. Paul阱中囚禁的低能Ar2+离子与Ar的电荷转移[J]. 原子与分子物理学报, 2007, 24(3): 471. 李俊, 陈亮, 李交美, 高克林. Charge transfer between trapped low-energy Ar2+ and Ar in a Paul trap[J]. Journal of Atomic and Molecular Physics, 2007, 24(3): 471.
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