光子学报, 2003, 32 (4): 409, 网络出版: 2007-09-18
单模光纤中弯曲损耗的测试与分析
Analysis and Test of Bend Loss in Single-mode Fiber
摘要
对单模光纤中弯曲损耗随弯曲半径(1～8 mm)和波长(1530～1565 nm)变化的实验进行了测试,结果显示弯曲损耗随弯曲半径和波长呈现振荡.理论分析表明由于光纤纤芯中的基模和在包层以及涂覆层中传播的Whispering-gallery模式之间的耦合,引起了弯曲损耗的振荡,理论分析结果和实验结果基本一致.
Abstract
游善红, 郝素君, 殷宗敏, 李新碗. 单模光纤中弯曲损耗的测试与分析[J]. 光子学报, 2003, 32(4): 409. 游善红, 郝素君, 殷宗敏, 李新碗. Analysis and Test of Bend Loss in Single-mode Fiber[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2003, 32(4): 409.
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