激光与光电子学进展, 2014, 51 (8): 080401, 网络出版: 2014-07-30   

二相驱动帧转移型CCD电荷溢出现象分析及解决方法 下载: 560次

Analysis and Solution of Two-Phase FT-CCD Charge Overflow Phenomenon
刘懿 1,2,*周青 1,2尹达一 1
作者单位
1 中国科学院上海技术物理研究所, 上海 200083
2 中国科学院大学, 北京 100049
摘要
CCD接收到过强信号时会出现电荷溢出现象,对于无溢出漏级结构的CCD,需合理设置成像系统参数避免出现电荷溢出。针对滨松帧转移型CCD 对非强目标成像时出现的电荷溢出现象,分析其原因是由行读出过程中成像区长时间电荷积累而导致的,通过积分之前的多次帧转移,有效解决了电荷溢出问题,并基于积分球实验进一步论证了原因及解决方法。
Abstract
Charge overflow phenomenon will arise when CCD is receiving strong signals. With CCD without overflow drains, the parameters of the imaging system have to be set properly to avoid charge overflow. Based on the charge overflow phenomenon when using HAMAMATSU Frame-Transfer CCD to image not so strong targets, according to the paper, it is caused by the long-time charge accumulation of the image section during line readout process. To remove the overflow signal effectively, multiple frame transfers are carried out before integration time. Integrating sphere tests are also performed to testify the reason and the solution.

刘懿, 周青, 尹达一. 二相驱动帧转移型CCD电荷溢出现象分析及解决方法[J]. 激光与光电子学进展, 2014, 51(8): 080401. Liu Yi, Zhou Qing, Yin Dayi. Analysis and Solution of Two-Phase FT-CCD Charge Overflow Phenomenon[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2014, 51(8): 080401.

本文已被 2 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!