光学 精密工程, 2007, 15 (10): 1553, 网络出版: 2008-02-18
双盘式渐开线测量仪测点位置调整方式
Adjustment of stylus in double-disc involute measuring instrument
摘要
分析了双盘式渐开线测量仪中测点位置偏差对渐开线齿形测量的影响,探讨了高精度调整测点位置的两种方法:试验调整法与误差补偿调整法.试验调整法是根据测点偏离导轨平面测量渐开线齿形时,测量结果中齿形角小于实际值的原理,调整测头处于不同位置并测量渐开线齿形,齿形角最大的测量曲线对应的测点位置即为最佳位置.误差补偿调整法是在测点处于高于导轨平面的两个位置时,分别测量同一渐开线齿形,通过对测点偏移量逐次试值,补偿两次测量结果,使得测量结果中齿形偏差相同,获得测头偏移量.分析得出,上述两种方法调整测头位置的极限偏差分别为±0.010 mm和±0.015 mm,均可满足1级(GB/T10 095.1-2 001)渐开线齿形的测量要求.
Abstract
娄志峰, 王立鼎, 张玉玲, 马勇, 王晓东. 双盘式渐开线测量仪测点位置调整方式[J]. 光学 精密工程, 2007, 15(10): 1553. 娄志峰, 王立鼎, 张玉玲, 马勇, 王晓东. Adjustment of stylus in double-disc involute measuring instrument[J]. Optics and Precision Engineering, 2007, 15(10): 1553.
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