光学 精密工程, 2007, 15 (11): 1678, 网络出版: 2008-02-18
几种波片位相延迟测量方法的比较
Comparison and analysis of several methods for measuring waveplate retardation
摘要
建立了用于波片位相延迟测量的高精度多功能测试系统,实现了在同一测试系统上应用不同的测试方法,使测试具有可比性.对光谱扫描法、Soleil补偿器法及两种光强法进行了比较测量,并结合测试结果对各种方法进行了系统的误差分析.分析结果表明,对本测试系统而言,光谱扫描法适于测量λ/2波片,测量精度主要由单色仪的精度所决定,其误差《0.032%;Soleil补偿器法测量精度主要由Soleil补偿器精度决定,其误差《0.18%;光强法误差与待测波片的延迟量有关,且测试光路与偏振器的缺陷对测量精度影响较大.光谱扫描法与Soleil补偿器法测量λ/2波片的结果在误差范围内相符,光强法测量结果产生较大差异的原因来自光路、偏振器及方法本身的缺陷.实验结果为不同条件下选择最佳测量方法提供了参考依据.
Abstract
张志勇, 邓元勇, 王东光, 孙英姿, 玄伟佳. 几种波片位相延迟测量方法的比较[J]. 光学 精密工程, 2007, 15(11): 1678. 张志勇, 邓元勇, 王东光, 孙英姿, 玄伟佳. Comparison and analysis of several methods for measuring waveplate retardation[J]. Optics and Precision Engineering, 2007, 15(11): 1678.
PDF全文
