光子学报, 2007, 36 (9): 1705, 网络出版: 2008-02-18
CCD长时间积分边角亮光的实验研究
Experimental Study of CCD Corner Glow as Long Time Integration
摘要
通过实验定量研究了ICX412 CCD芯片在不同积分时间下的边角亮光的强度特征,并通过对CCD表面的拍摄,发现边角亮光的出现是由于CCD感光区域周边的两个辐射光源产生的近红外辐射.分析了黑场矫正方法对图像均方差(STD)影响,并研究了在积分过程中通过降低发光区域电路供电电压,再采用黑场矫正等手段消除了边角亮光对CCD长时间积分背景强度及STD的影响.
Abstract
邱虹云, 刘阳, 孙利群, 田芊. CCD长时间积分边角亮光的实验研究[J]. 光子学报, 2007, 36(9): 1705. 邱虹云, 刘阳, 孙利群, 田芊. Experimental Study of CCD Corner Glow as Long Time Integration[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2007, 36(9): 1705.
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