强激光与粒子束, 2007, 19 (7): 1221, 网络出版: 2008-02-18
利用数值模拟测量闪光照相中H-D曲线
H-D curve measurement using Monte Carlo simulation in flash X-ray radiography
摘要
在分析高能闪光照相中传统实验方法不足的基础上,提出了采用Monte Carlo模拟结果来建立底片光学密度与照射量之间的关系,并对一个球对称客体进行了实验照相.采用Monte Carlo方法分析了底片光学密度分布左右不对称的各种因素,认为底片光学密度分布左右不对称主要是照相器件几何对中不理想造成的,并说明了底片光学密度左右平均的合理性.在此基础上介绍了H-D曲线的生成方法,采用Silberstein理论得到了具有较高精度的H-D曲线.这种结合Monte Carlo模拟的H-D曲线测量方法不但避免了照射量测量误差,而且还考虑了H-D曲线对X射线能谱的依赖关系,更能体现实际情况,具有较高的精度.可用于球对称客体或柱对称客体的辐射照相.
Abstract
刘军, 刘进, 施将君, 刘瑞根, 管永红, 肖智强. 利用数值模拟测量闪光照相中H-D曲线[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(7): 1221. 刘军, 刘进, 施将君, 刘瑞根, 管永红, 肖智强. H-D curve measurement using Monte Carlo simulation in flash X-ray radiography[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2007, 19(7): 1221.
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