光学 精密工程, 2008, 16 (1): 1, 网络出版: 2008-07-08   

微通道板在12~40 nm波段的量子效率测量

Quantum efficiency of microchannel plate in 12~40 nm
作者单位
1 中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室,吉林 长春 130033
2 中国科学院 研究生院,北京 100039
摘要
提出了一种测量微通道板(MCP)量子效率的方法.该方法选用激光等离子体光源作为极紫外辐射源,使用传递标准探测器-硅光电二极管标定光源强度,用标定后的光照射待测MCP,采用直接测量电压来间接测量探测器输出电流,再计算出MCP量子效率.实验结果表明,在12~40 nm,MCP量子效率为2%~12.3%,量子效率随波长的增大呈下降趋势.测量与误差分析表明,导致MCP量子效率测量结果变化的主要因素是光源稳定性和机械转动精度.通过与计数方式测量结果比较,进一步验证了本测量方法的正确性.
Abstract

李敏, 范鲜红, 尼启良, 陈波. 微通道板在12~40 nm波段的量子效率测量[J]. 光学 精密工程, 2008, 16(1): 1. 李敏, 范鲜红, 尼启良, 陈波. Quantum efficiency of microchannel plate in 12~40 nm[J]. Optics and Precision Engineering, 2008, 16(1): 1.

本文已被 6 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!