强激光与粒子束, 2008, 20 (3): 409, 网络出版: 2008-08-17
ICF用Kirkpatrick-Baez型显微镜光学设计
Optical design of Kirkpatrick-Baez microscope for ICF
摘要
提出了直接针对惯性约束聚变(ICF)诊断目标的X射线Kirkpatrick-Baez型显微镜的像差校正和光学设计方法.在校正掠入射细光束像散的基础上,推导了内爆压缩区全视场范围内的垂轴像差表达式,进而构建了系统的空间分辨率预测模型.基于对空间分辨率和集光立体角两个关键指标的分析,结合ICF的实验要求,得到了系统的初始结构参数确定原则和光学设计流程.实例表明,该方法克服了传统的轴上球差评价的不足,设计结果能够同时满足内爆压缩区的视场、分辨率和集光效率的要求.
Abstract
穆宝忠, 伊圣振, 黄圣铃, 王占山. ICF用Kirkpatrick-Baez型显微镜光学设计[J]. 强激光与粒子束, 2008, 20(3): 409. 穆宝忠, 伊圣振, 黄圣铃, 王占山. Optical design of Kirkpatrick-Baez microscope for ICF[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2008, 20(3): 409.
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