原子与分子物理学报, 2007, 24 (z1): 99, 网络出版: 2008-08-17  

Si6N2团簇结构与性质的密度泛函理论研究

作者单位
1 兰州理工大学理学院,兰州,730050
2 兰州理工大学有色金属合金及加工教育部重点实验室,兰州,730050
3 西北师范大学物理与电子工程学院,兰州,730070
摘要
用密度泛函理论(DFT)中的杂化密度泛函B3LYP方法, 在6-31G(d)的水平上对Si6N2团簇的可能结构进行了几何结构优化和电子结构计算, 得到了16个可能的异构体. Si6N2团簇的最稳定结构是有4个Si-N键和4个Si-Si键的三维结构.自然键轨道方法分析成键性质的结果表明,Si-N键中Si原子向N原子有较大的电荷转移,因此Si-N原子间有较强的电相互作用;最强的IR和Raman谱峰分别位于1359.14 cm-1和1366.29 cm-1处;并计算了Si6N2团簇的最稳定结构的极化率和超极化率.
Abstract

张材荣, 陈玉红, 蒲忠胜, 王道斌, 元丽华, 许广济, 陈宏善. Si6N2团簇结构与性质的密度泛函理论研究[J]. 原子与分子物理学报, 2007, 24(z1): 99. 张材荣, 陈玉红, 蒲忠胜, 王道斌, 元丽华, 许广济, 陈宏善. [J]. Journal of Atomic and Molecular Physics, 2007, 24(z1): 99.

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