摘要

介绍了PHILIPS CM120电子显微镜照相原缝,描述了产生故障后的现象,分析产生故障的原因并给出解决办法.

补充资料

中图分类号：TN16

所属栏目：实验室建设

收稿日期：2007-09-29

修改稿日期：--

网络出版日期：0001-01-01

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备注：陈跟平,(1976-),男,研究生,主要从事业务:电子显微镜(TEM、SEM、EDAX)分析方法研究与应用.

【1】PHILIPS CM120说明书.

引用该论文

陈跟平,张翠兰. Troubleshooting and Servicing Examples of Photo System of Electron Microscope[J]. Modern Scientific Instruments, 2008, 18(1): 117-119

陈跟平,张翠兰. PHILIPS CM120电子显微镜照相系统故障及维修实例[J]. 现代科学仪器, 2008, 18(1): 117-119