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PHILIPS CM120电子显微镜照相系统故障及维修实例

Troubleshooting and Servicing Examples of Photo System of Electron Microscope

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摘要

介绍了PHILIPS CM120电子显微镜照相原缝,描述了产生故障后的现象,分析产生故障的原因并给出解决办法.

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补充资料

中图分类号:TN16

所属栏目:实验室建设

收稿日期:2007-09-29

修改稿日期:--

网络出版日期:0001-01-01

作者单位    点击查看

陈跟平:中国石油兰州化工研究中心,兰州,730060
张翠兰:中国石油兰州化工研究中心,兰州,730060

备注:陈跟平,(1976-),男,研究生,主要从事业务:电子显微镜(TEM、SEM、EDAX)分析方法研究与应用.

【1】PHILIPS CM120说明书.

引用该论文

陈跟平,张翠兰. Troubleshooting and Servicing Examples of Photo System of Electron Microscope[J]. Modern Scientific Instruments, 2008, 18(1): 117-119

陈跟平,张翠兰. PHILIPS CM120电子显微镜照相系统故障及维修实例[J]. 现代科学仪器, 2008, 18(1): 117-119

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