强激光与粒子束, 2009, 21 (4): 565, 网络出版: 2020-12-30   

集成电路高功率微波易损性预测评估模型

High power microwave vulnerability estimation model of integrated circuit
作者单位
1 清华大学 电机系,北京 100084
2 西北核技术研究所,西安 710024
摘要
介绍了集成电路高功率微波易损性的基本概念,给出了利用人工神经网络建立集成电路高功率微波易损性预测评估模型的基本步骤,通过一个实例,对预测评估模型的有效性进行了检验。实践表明:人工神经网络作为一个有效工具,可以较好地应用到集成电路高功率微波易损性预测评估工作中。
Abstract
The basic concept of the integrated circuit high power microwave(HPM) vulnerability was introduced as well as the main establishment processes of an integrated circuit high power microwave vulnerability estimation model. It is demonstrated by an example that the neural network is an effective method to evaluate high power microwave vulnerability effects of the integrated circuit.

方进勇, 张治强, 黄文华, 江伟华. 集成电路高功率微波易损性预测评估模型[J]. 强激光与粒子束, 2009, 21(4): 565. Fang Jinyong, Zhang Zhiqiang, Huang Wenhua, Jiang Weihua. High power microwave vulnerability estimation model of integrated circuit[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2009, 21(4): 565.

本文已被 1 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!