首页 > 论文 > 红外与毫米波学报 > 29卷 > 4期(pp:255-258)

基于PCIE的红外焦平面探测器测试系统

TEST SYSTEM FOR INFRARED FOCAL PLANE DETECTORS BASED ON PCIE

  • 摘要
  • 论文信息
  • 参考文献
  • 被引情况
  • PDF全文
分享:

摘要

介绍了一套自制高效的红外焦平面器件性能参数测试系统,建立了包括控制模块、辐射源、UFPA模块、信号采集模块和上位机程序在内的测试平台,分析了该系统平台的关键技术.系统可实现实时的数据采集,同时对RMS噪声、非均匀性、响应率、探测率、噪声等效功率和噪声等效温差等关键参数进行快速有效的计算分析,并能准确统计出盲元的数量和位置,分析、评估和存储器件每个像元的性能参数.

Abstract

A low-cost and efficient parameter test system for infrared focal plane arrays(IRFPA) was introduced. The test bench including control module, blackbody, UFPA module, signal acquisition module and the host computer program was established and the critical technologies of this system were analyzed. This system can realize real-time signal acquisition, and at the same time it can be used to analyze some important parameters, such as root mean square noise, nonuniformity, responsivity, detectivity, noise equivalent power (NEP) and noise equivalent temperature difference (NETD), and so on. This system also can accurately determine the number and location of bad pixels, analyze, assess, and store the performance parameters of each good pixel of devices.

广告组6 - 调制器
补充资料

中图分类号:TN216

基金项目:国家杰出青年基金项目(60425101)

收稿日期:2009-07-09

修改稿日期:2010-02-01

网络出版日期:0001-01-01

作者单位    点击查看

刘子骥:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 四川 成都 610054
蒋亚东:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 四川 成都 610054
祝红彬:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 四川 成都 610054
李伟:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 四川 成都 610054

备注:刘子骥(1981-),男,重庆人,博士生,主要从事非致冷红外焦平面测试系统技术的研究

【1】National Standardization Technical Committee. GB/T 13584-92. Measuring methods for parameters of infrared detectors[S]. Beijing: China Standard Press.(中华人民共和国国家技术监督局.GB/T 13584-92.红外探测器参数测试方法.北京:中国标准出版社),1992-07-15.

【2】National Standardization Technical Committee. GB/T 17444-1998. The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays[S]. Beijing: China Standard Press.(中华人民共和国国家技术监督局.GB/T 17444-1998.红外焦平面阵列特性参数测试技术规范.北京:中国标准出版社),1998-07-18.

【3】XUE Lian, YUAN Xiang-Hui. IRFPA testing virtual instrument system[J]. Chinese Journal Of Electron Devices.(薛联,袁祥辉.红外焦平面阵列测试虚拟仪器系统.电子器件),2007,30(6):2284-2287.

【4】Qu Hui-Ming, CHEN Qian, GU Guo-Hua, et al. Test System for Measuring Characteristic Parameters of IRFPA[J]. Laser & Infrared.(屈惠明,陈钱,顾国华,等.红外焦平面阵列性能参数测试系统.激光与红外),2006,36(10):950-952.

【5】QIAN Yun-Sheng, ZHANG Jun-Ju, SUN Lian-Jun, et al. Non-uniformity measurement of uncooled infrared focal plane array[J]. Infrared and Laser Engineering.(钱芸生,张俊举,孙恋君,等.非制冷红外焦平面非均匀性测试技术研究.红外与激光工程),2007,36(3):129-132.

引用该论文

LIU Zi-Ji,JIANG Ya-Dong,ZHU Hong-Bin,LI Wei. TEST SYSTEM FOR INFRARED FOCAL PLANE DETECTORS BASED ON PCIE[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2010, 29(4): 255-258

刘子骥,蒋亚东,祝红彬,李伟. 基于PCIE的红外焦平面探测器测试系统[J]. 红外与毫米波学报, 2010, 29(4): 255-258

被引情况

【1】汪洋,刘大福,徐勤飞,范广宇,龚海梅. 红外光导探测器组件的串音研究. 红外, 2014, 35(7): 16-20

【2】杨淳清,李兵,马豹. 基于OO-TDPN的红外焦平面阵列非均匀性校正系统建模研究. 红外, 2011, 32(4): 18-22

【3】汪洋,刘大福,徐勤飞,王妮丽,李雪,龚海梅. 红外探测器组件的光串测试及模拟. 光学学报, 2016, 36(4): 404001--1

您的浏览器不支持PDF插件,请使用最新的(Chrome/Fire Fox等)浏览器.或者您还可以点击此处下载该论文PDF