光学学报, 1987, 7 (9): 812, 网络出版: 2011-09-20  

一种简单的显微物镜波面像差测定干涉仪

A simple interferometer for testing microscopic objective wave aberrations
作者单位
中国科学院长春光学精密机械研究所
摘要
提出一种结构简单的显微物镜波面像差测定干涉仪。该仪器可以测定各种倍率物镜轴上、轴外多种波长的波面像差等光学性能参数。并分析了仪器的系统误差。
Abstract
We have developed a simple interferometer to test the microscopic objective. It may be used to test the on- or off-axis various wavelength wave aberrations, chromatic aberration and other optical performances of various magnification microscopic objective. We have described and discused the system errors of this instruments.

向才新, 韩昌元, 贾林贤, 王立升. 一种简单的显微物镜波面像差测定干涉仪[J]. 光学学报, 1987, 7(9): 812. XIANG CAIXIN, HAM CHANGYUAN, JIA LINXIAN, WANG LINSHENG. A simple interferometer for testing microscopic objective wave aberrations[J]. Acta Optica Sinica, 1987, 7(9): 812.

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!