发光学报, 2012, 33 (9): 960, 网络出版: 2012-09-24   

Rh掺杂的Ru2Si3的电子结构及光学性质

First Principle Calculation of The Electronic Structure and Optical Properties of Rh-doped Ru2Si3 Semiconductors
作者单位
1 中国科学院 微电子研究所, 北京100029
2 贵州大学理学院 贵州大学新型光电子材料与技术研究所, 贵州 贵阳550025
摘要
采用基于密度泛函理论的第一性原理赝势平面波计算方法,结合广义梯度近似(GGA)对Ru2Si3掺Rh原子的电子结构和光学性质进行了研究,计算结果表明:掺入Rh原子使得Ru2Si3的晶胞体积有所增大,Rh替换RuⅢ位的Ru原子使得体系处于稳定态,导电类型变为n型,静态介电函数值为ε1(0)=25.201 4,折射率n0的值有所增大为5.02。
Abstract
The electronic structure and optical properties of impurity Rh-doped Ru2Si3 have been studied by using the first principle plane-wave pseudo-potential based on the density function theory. The calculated results show that doped Ru2Si3 make the cell volume increases. Rh-doping replacing RuⅢ position makes the system steady, and the conductivity type convert into n-type; the static dielectric function is 25.201 4, the value of the refractive index has increased to 5.02.

崔冬萌, 贾锐, 谢泉, 赵珂杰. Rh掺杂的Ru2Si3的电子结构及光学性质[J]. 发光学报, 2012, 33(9): 960. CUI Dong-meng, JIA Rui, XIE Quan, ZHAO Ke-jie. First Principle Calculation of The Electronic Structure and Optical Properties of Rh-doped Ru2Si3 Semiconductors[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2012, 33(9): 960.

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