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面向综合诊断的电子装备测试资源优化分配

Integrated Diagnostics Oriented Optimized Allocation of Electronic Equipment's Test Resource

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摘要

针对综合诊断思想对电子装备测试资源分配的新要求,在测试点优化的基础上,建立了装备BITE与ATE优化分配的模型。该模型以测试代价最小为优化目标,以故障检测率、故障隔离率及虚警率为约束条件并通过LINGO求解。结果表明,该方法在满足测试性指标的同时降低了测试代价,对装备分层次设计和诊断、提高保障效率、减少寿命周期费用,具有重要意义。

Abstract

Considering the requirements of integrated diagnostics to electronic equipment for test resource allocation we established the optimized allocation models of Built-In Test Equipment (BITE) and Automatic Test Equipment (ATE) based on test points' optimization.Taking the minimum test cost as the optimization object and with the constraint conditions of fault detection rate fault isolation rate and false alarm rate this model was solved by LINGO.The results indicated that this method can meet the testability indicators while reducing the test cost which is of great significance to hierarchy design and diagnostics of equipment for increasing logistic support efficiency as well as decreasing life-cycle cost.

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补充资料

中图分类号:V271.4;TP26

DOI:10.3969/j.issn.1671-637x.2013.01.017

所属栏目:工程应用

基金项目:河北省重点基础研究项目(10963529D)

收稿日期:2011-12-25

修改稿日期:--

网络出版日期:--

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杜敏杰:军械工程学院光学与电子工程系, 石家庄 050003
蔡金燕:军械工程学院光学与电子工程系, 石家庄 050003
刘利民:军械工程学院光学与电子工程系, 石家庄 050003

备注:杜敏杰(1984—),男,河南新蔡人,博士生,研究方向为武器系统性能检测与故障诊断。

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引用该论文

DU Minjie,CAI Jinyan,LIU Limin. Integrated Diagnostics Oriented Optimized Allocation of Electronic Equipment's Test Resource[J]. Electronics Optics & Control, 2013, 20(1): 74-76

杜敏杰,蔡金燕,刘利民. 面向综合诊断的电子装备测试资源优化分配[J]. 电光与控制, 2013, 20(1): 74-76

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