光学仪器, 2013, 35 (3): 58, 网络出版: 2013-07-09   

散斑干涉条纹测量系统设计

Measurement system design of speckle interference fringes
作者单位
南京航空航天大学 理学院,江苏 南京211106
摘要
为了测量散斑干涉条纹,从而计算出被测物体的微位移,提出了一种基于AT89S52芯片的解决方案。运用单片机驱动步进电机,精准控制光敏传感器的移动,利用传感器判定暗条纹中心,结合软件进行实时处理,获得再现干涉条纹间距。实验结果表明,该设计方案对散斑位移的测量精度可达0.001 mm。
Abstract
To measure the speckle interference fringes and calculate the micro-displacement of the object, a solution based on AT89S52 chip was proposed. Driven by a step motor, light sensor moved precisely, so that the center position of the dark stripes could be dertermined accurately. With the software of MCU, this system can process data in real-time, and finally obtains interference fringe spacing. Experimental results show the accuracy of this design system is 0.001 mm.

盛伟, 李季平, 陈加林, 王辰熙. 散斑干涉条纹测量系统设计[J]. 光学仪器, 2013, 35(3): 58. SHENG Wei, LI Jiping, CHEN Jialin, WANG Chenxi. Measurement system design of speckle interference fringes[J]. Optical Instruments, 2013, 35(3): 58.

本文已被 1 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!