光学与光电技术, 2013, 11 (4): 29, 网络出版: 2013-10-29   

红外焦平面探测器制冷组件可靠性研究进展

Research Progress on Reliability of Infrared Focal Plane Array Detector Cooler Assemblies
作者单位
工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广东 广州 510610
摘要
红外焦平面探测器制冷组件的可靠性研究对推进组件工程化应用具有重要意义。介绍了国外在组件的可靠性模型、失效模式、加速应力以及可靠性试验等方面的研究进展,并对国内的组件可靠性研究状况作了简要分析,总结了对组件可靠性研究的总体思路,为国内红外焦平面探测器制冷组件的可靠性研究提供参考。
Abstract
Reliability research is of great significance for the engineering application of infrared focal plane array detector cooler assemblies. In this paper, research progress of reliability model, failure modes, acceleration factors, and reliability tests on the assemblies are introduced. In addition, the main thought of reliability research on the assemblies is briefly analyzed. This provides a reference for the domestic reliability research of the assemblies.

赖灿雄, 杨少华, 路国光, 恩云飞, 黄云. 红外焦平面探测器制冷组件可靠性研究进展[J]. 光学与光电技术, 2013, 11(4): 29. LAI Can-xiong, YANG Shao-hua, LU Guo-guang, EN Yun-fei, HUANG Yun. Research Progress on Reliability of Infrared Focal Plane Array Detector Cooler Assemblies[J]. OPTICS & OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY, 2013, 11(4): 29.

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