光散射学报, 2008, 20 (3): 245, 网络出版: 2014-01-21   

多晶AlN光学性质研究

Optical Characteristics of Poly-crystalline AlN
作者单位
1 中国科学院半导体研究所 半导体材料科学重点实验室, 北京 100083
2 中国科学院半导体研究所新材料中心, 北京 100083
摘要
运用X射线衍射仪和拉曼光谱仪, 测量了物理气相输运(PVT)方法生长的AlN多晶材料的X射线衍射和常温拉曼光谱。常温拉曼光谱研究了晶界、晶面方向与拉曼频率的关系, 观察到了E和E峰位基本不随测量位置变化, 与晶界无关, 但是E1(TO), A1(LO)和Quasi-LO声子峰位却明显与晶界有关, 为研究晶粒间、晶粒内应力提供了有效手段。
Abstract
X-ray diffraction and Raman spectrum have been measured to study poly-crystalline AlN. The relationship between raman frequency and crystal boundary and face has been studied by raman scattering at room temperature. Peak positions of Raman frequencies E1(TO), A1(LO) and Quasi-LO except Eand E were related with crystal boundaries and shifted with measurement position.

周立, 陈涌海, 王占国, 赵有文. 多晶AlN光学性质研究[J]. 光散射学报, 2008, 20(3): 245. ZHOU Li, CHEN Yong-hai, WANG Zhan-guo, Zhao You-wen. Optical Characteristics of Poly-crystalline AlN[J]. The Journal of Light Scattering, 2008, 20(3): 245.

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