中国光学, 2014, 7 (5): 691, 网络出版: 2014-10-23   

高分辨率表面等离子体显微镜综述

Review of high resolution surface plasmon microscopy
作者单位
中国科学院 电子学研究所 传感技术国家重点实验室,北京 100190
摘要
本文对表面等离子体显微镜的原理、架构和应用进行了综述,指出表面等离子体显微镜技术的未来发展方向是着力提高横向分辨率,接近光学衍射极限,以及发展与电化学、力学等微纳操纵手段结合的表面等离子体显微镜,形成微纳尺度下显微成像和操纵的闭环测量路径。
Abstract
In this paper, major developments in Surface Plasmon Microscope(SPM) technology are reviewed. Theory, experiment setup and application examples are presented. Two SPM technology trends, i.e., enhancing lateral resolution close to optical diffraction limit and combining with electrochemical/mechanical micro/nano manipulation methods, are suggested and discussed.

蔡浩原. 高分辨率表面等离子体显微镜综述[J]. 中国光学, 2014, 7(5): 691. CAI Hao-yuan. Review of high resolution surface plasmon microscopy[J]. Chinese Optics, 2014, 7(5): 691.

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