强激光与粒子束, 2014, 26 (11): 114007, 网络出版: 2014-12-08  

基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析

Simulation analysis of electron imaging method based on Monte Carlo simulation and particle tracer software
王致远 1,2,*杜应超 1,2黄文会 1,2
作者单位
1 清华大学 工程物理系, 北京 100084
2 清华大学 粒子技术与辐射成像教育部重点实验室, 北京 100084
摘要
借助理论分析和数值模拟,设计了基于高能电子束团的辐射成像系统,并通过Geant4和GPT软件对成像系统的相关参数进行了优化。模拟中分析了影响系统空间分辨率及物质厚度分辨率的因素,结果显示,模拟中设计的成像系统空间分辨率达到μm量级,并且具有一定的厚度分辨能力。该设计指标满足对一定厚度及结构的样品进行成像的要求。
Abstract
We designed the radiography imaging system based on the high energy electron beam using theoretical analysis and numerical simulation, and optimized the parameters using Geant4 and GPT software. In the simulation we analyzed the parameters which affect the system space resolution and areal density resolution. With the ability to resolve the thickness of the sample, the result shows that the method can reach space resolution of μm. It proves that the design satisfies the demand to image the sample of certain thickness and structure.

王致远, 杜应超, 黄文会. 基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26(11): 114007. Wang Zhiyuan, Du Yingchao, Huang Wenhui. Simulation analysis of electron imaging method based on Monte Carlo simulation and particle tracer software[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26(11): 114007.

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