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星上定标衰减屏特性的测试方法

Measurement Method of Solar Attenuation Screen Characteristic for On-Orbit Calibration

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摘要

介绍了一套测量太阳光衰减屏透过率的测量装置。该装置需要测量两组数据:安装太阳光衰减屏和不安装太阳光衰减屏透过的信号值,通过求两者在相同几何条件下比值的方式得出了衰减屏的透过率。提出采用多项式拟合插值的方式解决在轨角度密集的问题,计算可知拟合插值引入的不确定度优于0.04%。数据结果显示,衰减屏的平均透过率为13.3%,结果的总不确定性优于0.54%(覆盖因子k=2)。结果表明,该装置能够为太阳光衰减屏在轨使用提供数据支持。

Abstract

A set of measuring device for the transmittance of the solar attenuation screen is introduced. Two set of data are required: light signals transmitted through the test fixture with and without the solar attenuation screen. Then the solar attenuation screen transmittance is the ratio of the screen-on data to the screen-off data under the same geometric condition. The method of polynomial fitting interpolation is proposed, which is used to solve the problem of dense on-orbit angle. The error of the method is less than 0.04%. The results show that the average transmittance of the solar attenuation screen is 13.3%, and the uncertainty of the device is better than 0.54% (covering factor k=2). The results indicate that the device can provide data support for the use of the solar attenuation screen on orbit.

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补充资料

中图分类号:TP721.2;O439

DOI:10.3788/aos201838.0928001

所属栏目:遥感与传感器

基金项目:国家自然科学基金(41601388)

收稿日期:2018-02-28

修改稿日期:2018-03-16

网络出版日期:2018-04-09

作者单位    点击查看

汪伟:中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室, 安徽 合肥 230031中国科学技术大学, 安徽 合肥 230026
张黎明:中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室, 安徽 合肥 230031
黄文薪:中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室, 安徽 合肥 230031
杨宝云:中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室, 安徽 合肥 230031
王戟翔:中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室, 安徽 合肥 230031
许和鱼:中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室, 安徽 合肥 230031中国科学技术大学, 安徽 合肥 230026
包诗薇:中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室, 安徽 合肥 230031中国科学技术大学, 安徽 合肥 230026

联系人作者:张黎明(lmzhang@aiofm.ac.cn); 汪伟(932880281@qq.com);

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引用该论文

Wang Wei,Zhang Liming,Huang Wenxin,Yang Baoyun,Wang Jixiang,Xu Heyu,Bao Shiwei. Measurement Method of Solar Attenuation Screen Characteristic for On-Orbit Calibration[J]. Acta Optica Sinica, 2018, 38(9): 0928001

汪伟,张黎明,黄文薪,杨宝云,王戟翔,许和鱼,包诗薇. 星上定标衰减屏特性的测试方法[J]. 光学学报, 2018, 38(9): 0928001

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