作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(1): 27
作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(1): 25
作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(2): 38
作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(2): 37
作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(2): 36
作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(2): 34
作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(3): 35
作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(3): 35
作者单位
摘要
激光与光电子学进展
1996, 33(3): 32
作者单位
摘要
中国科学院上海光机所, 上海 201800
对人眼安全、小型、高重复率、无合作目标的半导体激光过程测距仅是近几年在国际上迅速发展起来的新型激光测距技术。本测距仪的测量范围为10~100 m,分辨率为0.5 m,重复率为1 kHz,使用的半导体激光二极管和光电二极管都是国产元件。
人眼安全 高重复率 半导体激光二极管 
激光与光电子学进展
1996, 33(3): 28

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