基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量 | 网络首发 -- 中国光学期刊网

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年第卷第期

基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量

杜星湖 ¹薛颖 ¹何星 ¹王帅 ¹杨平 ¹许冰 ¹

录用时间：2019-11-04

作者单位

¹ 中国科学院光电技术研究所

论文摘要

为提升光腔衰荡高反射率测量技术的测量精度，本文提出一种基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法。该方法在耦合光腔衰荡系统中引入衰荡腔腔内模式监测模块，以腔内运行模式为判据寻找初始腔和测试腔耦合效率一致的状态，从而实现更高测量精度。实验结果表明，在确保腔内模式处于基横模状态下时，初始腔和测试腔腔内等效损耗降低值几乎一致；对同一高反射率样片，该技术对比传统方法可实现17.3%~27.1%测量精度提升。

光腔衰荡技术高反射率测量耦合光腔衰荡技术基横模

引用本文

杜星湖, 薛颖, 何星, 王帅, 杨平, 许冰. 基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量[J]. 中国激光, , (): .

DOI：10.3788/CJL191361

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