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宽波段铁电液晶偏振态分析器的优化设计

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摘要

铁电液晶偏振态分析器是宽波段偏振成像的核心组件,其抑制噪声的能力对偏振测量结果产生重要影响,解决宽波段优化设计问题具有重要意义。本文重点研究了一种宽波段铁电液晶偏振态分析器的优化设计方法,根据宽波段偏振成像测量的基本原理推导出铁电液晶偏振态分析器的Stokes测量矩阵,采用遗传算法和CN (Condition Number)、EWV (Equally Weighted Variance) 评价准则对偏振器件的方位角参数进行优化设计,得到了铁电液晶偏振态分析器的最佳器件组合方式和方位角参数。最后,根据设计结果搭建了多波段实验装置,对3D眼镜和偏振片进行了成像测量实验。实验结果表明利用本文设计方法实现的偏振测量装置能够有效反映出测量目标的偏振特性。本文的优化设计方法为宽波段偏振成像与探测研究提供有意义的参考。

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补充资料

DOI:10.3788/aos201737.0726002

作者单位:

    南京理工大学电光学院
    南京理工大学电光学院
    南京理工大学电光学院
    南京理工大学电光学院
    南京理工大学
    南京理工大学电光学院
    南京理工大学电光学院

引用该论文

李建欣,刘勤,周建强,柏财勋,许逸轩,袁恒,刘杰. 宽波段铁电液晶偏振态分析器的优化设计[J].光学学报,2017,37(7):0726002.