成像系统

CL系统对于扁平状物体的检测具有独特的优势，几何参数标定是CL系统获得高质量图像的重要步骤。现有CL几何参数标定方法仅标定部分几何参数，难以通过一次标定完成所有几何参数标定。本文借鉴CT几何参数标定方法，提出了一种高精度的迭代标定方法，利用简单体模快速标定CL系统的所有几何参数。首先，对CT几何参数标定方法用于CL的有效性进行分析，确定了对CT几何参数标定方法敏感的CL几何参数；其次，根据CL投影几何关系，构建新的反映CL实际系统与理想系统间误差的非线性最小二乘目标函数，利用迭代法不断优化敏感参数和其它关键参数。实验结果表明，本文方法能够有效标定CL系统所有几何参数，敏感参数以及受敏感参数影响的其它几何参数标定精度均有明显提升。同时，利用已标定的几何参数重建三维SheppLogan体模和PCB体模，重建图像中均没有几何伪影，验证了算法的有效性。

王敬雨, 韩玉, 李磊, 席晓琦, 刘建邦, 闫镔. 一种迭代的锥束CL几何全参数标定方法[J]. 光学学报, 2017, 37(8): 3.  复制并引用该论文