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基于双弹光差频调制的高精度中红外波片测量方法研究

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摘要

针对目前中红外波片相位延迟精确测量困难、测量精度低,且单个弹光调制器(Photoelastic-modulator,PEM)调制频率高、普通中红外探测器及面阵探测器无法有效探测等问题,提出一种基于双弹光差频调制的中红外相位延迟精确测量方法。采用两个硒化锌型PEM差频的方式来降低系统调制频率(相比于单个PEM的调制频率可降低3-4个数量级),从而对光进行差频调制并产生载有被测相位延迟的低频调制信号,对调制后的1倍和2倍差频幅值进行相除,进而可求得被测波片的相位延迟;且该方法可有效抑制光强波动及PEM相位延迟波动对测量的影响,进而可提高测量精度。对测量原理进行了理论推导,并设计硒化锌型PEM和实验系统,实验结果表明:相位延迟测量误差≤0.004%,灵敏度可达0.5×10-3 rad,该方法可为中红外、高精度、成像型相位延迟测量提供理论基础及技术方法。

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补充资料

DOI:10.3788/aos201939.0312002

作者单位:

    中北大学
    中北大学
    中北大学
    中北大学
    山西省光电信息与仪器工程技术研究中心
    中北大学

引用该论文

张瑞,陈媛媛,景宁,王志斌,李克武,解琨阳. 基于双弹光差频调制的高精度中红外波片测量方法研究[J].光学学报,2019,39(03):0312002.