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基于投影栅相位法和独立分量分析的强反射表面形貌测量

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摘要

提出了一种结合独立分量分析(ICA)算法的投影栅相位法,用于实现强反射表面三维形貌的测量。分析了强反射表面的反射光的模型及其特点,即反射光主要由镜面反射光以及漫反射光组成。并针对镜面反射光的偏振特性,通过在CCD摄像机镜头前装加偏振片,可以对镜面反射光进行初步的滤除。同时旋转偏振片,获得不同角度下的偏振图像,利用反射光模型并结合独立分量分析算法,将镜面反射光分量以及漫反射光分量进行分离。最后使用漫反射光分量图像对物体进行三维重建。实测了一块表面光滑的铝合金工件,验证了该方法的可行性。

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DOI:10.3788/lop57.051201

作者单位:

    中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
    中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

引用该论文

张翼翔,张连. 基于投影栅相位法和独立分量分析的强反射表面形貌测量[J].激光与光电子学进展,2020,57(05):051201.