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皮秒激光对图像传感器的干扰和损伤研究 [Early Posting]

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摘要

实验研究1064nm皮秒激光在1kHz、10kHz、100kHz重频下辐照CCD和CMOS图像传感器的干扰和损伤现象,以及不同层次损伤下CCD和CMOS的成像质量变化。分析了与CCD对比,CMOS在干扰阶段未出现串音,损伤阶段出现竖横线损伤的原因。在干扰阶段,CCD和CMOS饱和阈值无明显差别,而相比于CCD,CMOS完全失效的阈值要高一个数量级,说明CMOS在抗激光损伤方面更具优势。实验结果表明:图像传感器的激光干扰效果在光积分时间一定时,由激光平均功率密度决定,而损伤效果则由激光峰值功率密度决定。

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补充资料

DOI:10.3788/cjl202047.0801006

作者单位:

    中国科学院空天信息创新研究院
    中国科学院空天信息创新研究院
    中国科学院空天信息创新研究院
    中国科学院空天信息创新研究院

引用该论文

李湧江,刘晓龙,孙便便,孟冬冬. 皮秒激光对图像传感器的干扰和损伤研究[J].中国激光,2020,47(08):0801006.