光子学报, 2018, 47 (9): 0917003, 网络出版: 2018-09-15  

基于菲涅耳透镜色散的双波长荧光显微深度成像

Dual Wavelength Fluorescence Microscopy Depth Imaging Based on Fresnel Lens Chromatic Aberration
作者单位
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院, 教育部光学仪器与系统工程研究中心, 上海市现代光学系统重点实验室, 上海 200093
基本信息
DOI: 10.3788/gzxb20184709.0917003
中图分类号: TH742
栏目:
项目基金: 上海市科学技术委员会科研计划项目(No.18060502500)资助
收稿日期: 2018-03-21
修改稿日期: 2018-06-13
网络出版日期: 2018-09-15
通讯作者: 黄新荣 (xinrong5126@163.com)
备注: --

黄新荣, 郑继红, 刘悠嵘, 朱天赟, 缪涛. 基于菲涅耳透镜色散的双波长荧光显微深度成像[J]. 光子学报, 2018, 47(9): 0917003. HUANG Xin-rong, ZHENG Ji-hong, LIU You-rong, ZHU Tian-yun, MIAO Tao. Dual Wavelength Fluorescence Microscopy Depth Imaging Based on Fresnel Lens Chromatic Aberration[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2018, 47(9): 0917003.

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