光学学报, 2002, 22 (4): 452, 网络出版: 2006-08-08  

偏光干涉在物体几何形貌检测中的应用

Application of Conoscopic Interference in Geometric Profilometry
作者单位
天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室,天津,300072
基本信息
DOI: --
中图分类号: TN206
栏目: 仪器,测量与计量
项目基金: 国家自然科学基金(50075064)资助课题.
收稿日期: 2000-11-27
修改稿日期: 2001-04-24
网络出版日期: 2006-08-08
通讯作者: 高翔 (xg@eyou.com)
备注: --

高翔, 张国雄, 李真. 偏光干涉在物体几何形貌检测中的应用[J]. 光学学报, 2002, 22(4): 452. 高翔, 张国雄, 李真. Application of Conoscopic Interference in Geometric Profilometry[J]. Acta Optica Sinica, 2002, 22(4): 452.

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