半导体光子学与技术, 1998, 4 (2): 84, 网络出版: 2011-08-08  

Analysis on Conductivity of nc-Si:H Films

Analysis on Conductivity of nc-Si:H Films
作者单位
Dept. of S. S. Electron., Huazhong University of Sci. and Tech., Wuhan 430074, CHN
基本信息
DOI: --
中图分类号: TN304.12
栏目:
项目基金: Supported by the Natural Science Foundation of Hubei Province of China (No.96J026).
收稿日期: 1998-02-09
修改稿日期: 1998-05-06
网络出版日期: 2011-08-08
通讯作者:
备注: --

QIANG Wei, XU Zhongyang, WANG Changan, ZENG Xiangbin, DAI Yongbin, ZHOU Xuemei. Analysis on Conductivity of nc-Si:H Films[J]. 半导体光子学与技术, 1998, 4(2): 84. QIANG Wei, XU Zhongyang, WANG Changan, ZENG Xiangbin, DAI Yongbin, ZHOU Xuemei. Analysis on Conductivity of nc-Si:H Films[J]. Semiconductor Photonics and Technology, 1998, 4(2): 84.

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