一种太赫兹脉冲探测芯片性能分析

王雪锋; 王建国; 王光强; 李爽; 熊正锋; 陆希成; 彭建昌

doi:doi:10.11884/hplpb201426.083103

强激光与粒子束, 2014, 26 (8): 083103, 网络出版: 2014-07-30

一种太赫兹脉冲探测芯片性能分析

Performance analysis of a sensing element for high power terahertz pulse measurement

王雪锋 ^1,2,*王建国 ^1,3王光强 ^1,2李爽 ^1,2熊正锋 ^1,2陆希成 ^1,2彭建昌 ^1,2

作者单位

¹ 西北核技术研究所, 西安 710024

² 高功率微波技术重点实验室, 西安 710024

³ 西安交通大学电子与信息工程学院, 西安 710049

补充材料

王雪锋, 王建国, 王光强, 李爽, 熊正锋, 陆希成, 彭建昌. 一种太赫兹脉冲探测芯片性能分析[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26(8): 083103. 王雪锋, 王建国, 王光强, 李爽, 熊正锋, 陆希成, 彭建昌. Performance analysis of a sensing element for high power terahertz pulse measurement[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26(8): 083103.