红外技术, 2010, 32 (11): 632, 网络出版: 2011-01-05  

红外上转换薄膜的分辨率数字化测试研究

Study on Digitalized Resolution Testing of Infrared Up-conversion Thin Film
作者单位
1 军械工程学院光学与电子工程系,河北 石家庄 050003
2 哈尔滨工业大学理学院,黑龙江 哈尔滨 150001
引用该论文

吴先权, 华文深, 赵莉君, 谢大兵, 李晓明. 红外上转换薄膜的分辨率数字化测试研究[J]. 红外技术, 2010, 32(11): 632.

WU Xian-quan, HUA Wen-shen, ZHAO Li-jun, XIE Da-bing, LI Xiao-ming. Study on Digitalized Resolution Testing of Infrared Up-conversion Thin Film[J]. Infrared Technology, 2010, 32(11): 632.

参考文献

[1] 谢大兵, 华文深, 刘秉琦, 吴先权. 基于红外上转换原理的短波红外阵列探测器研究[J]. 红外技术, 2010, 32(1): 6-10.

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[3] 胡文刚, 李斐如, 孙玉杰, 等. 一种测量电视跟踪系统摄像头分辨率的新方法[J]. 光学与光电技术, 2004, 2(2): 27-28.

[4] 苏大图. 光学测试技术[M]. 北京: 北京理工大学出版社, 1996: 29-37.

[5] 董霖. MATLAB 使用详解[M]. 北京: 科学出版社, 2008: 465-491.

[6] 安连声, 李林, 李全臣. 应用光学(2版)[M]. 北京: 北京理工大学出版社, 2002: 160-163.

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