电光与控制, 2009, 16 (4): 65, 网络出版: 2010-04-01
基于虚拟可及测试节点的模拟电路故障诊断
Fault Diagnosis in Analog Circuits Based on Virtual Accessible Testing Nodes
基本信息
| DOI: | -- |
| 中图分类号: | V271.4;TN710 |
| 栏目: | 工程应用 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金重点课题(60736026)、“教育部新世纪优秀人才支持计划”资助项目. |
| 收稿日期: | 2008-03-13 |
| 修改稿日期: | 2008-04-18 |
| 网络出版日期: | 2010-04-01 |
| 通讯作者: | 刘本德 (lbd_gcxy@163.com) |
| 备注: | -- |
刘本德, 胡昌华. 基于虚拟可及测试节点的模拟电路故障诊断[J]. 电光与控制, 2009, 16(4): 65. LIU Bende, HU Changhua. Fault Diagnosis in Analog Circuits Based on Virtual Accessible Testing Nodes[J]. Electronics Optics & Control, 2009, 16(4): 65.
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