光电子快报(英文版), 2014, 10 (4): 308, Published Online: Oct. 12, 2017   

A color phase shift profilometry for the fabric defect detection

Author Affiliations
1 Key Laboratory of Advanced Electrical Engineering and Energy Technology, Tianjin Polytechnic University, Tianjin 300387, China
2 School of Electrical, Computer and Telecommunications Engineering, University of Wollongong, Keiraville 2500, Australia
Basic Information
DOI: 10.1007/s11801-014-4065-z
中图分类号: --
栏目:
项目基金: This work has been supported by the National Natural Science Foundation of China (Nos.60808020 and 61078041), and the Tianjin Research Program of Application Foundation and Advanced Technology (No.10JCYBJC07200).
收稿日期: Apr. 18, 2014
修改稿日期: --
网络出版日期: Oct. 12, 2017
通讯作者: SONG Li-mei (lilymay1976@126.com)
备注: --

SONG Li-mei, LI Zong-yan, CHANG Yu-lan, XING Guang-xin, WANG Peng-qiang, XI Jiang-tao, ZHU Teng-da. A color phase shift profilometry for the fabric defect detection[J]. 光电子快报(英文版), 2014, 10(4): 308.

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