X射线激光干涉对晶体精密测量

张超; 茆慧玲

doi:doi:10.13883/j.issn1004-5929.201704015

光散射学报, 2017, 29 (4): 372, 网络出版: 2018-01-10

X射线激光干涉对晶体精密测量

Precise Measuring of Crystals by X-Ray Laser Apparatus Interference

张超 ^1,*茆慧玲 ²

作者单位

¹ 浙江大学地球科学学院,杭州 310027

² 浙江大学物理系,杭州 310027

基本信息

DOI:	10.13883/j.issn1004-5929.201704015
中图分类号:	O43
栏目:	其它光谱技术及应用
项目基金:	--
收稿日期:	2017-03-20
修改稿日期:	2017-04-07
网络出版日期:	2018-01-10
通讯作者:	张超 (zhang-chao@zju.edu.cn)
备注:	--

张超, 茆慧玲. X射线激光干涉对晶体精密测量[J]. 光散射学报, 2017, 29(4): 372. ZHANG Chao, MAO Huiling. Precise Measuring of Crystals by X-Ray Laser Apparatus Interference[J]. The Journal of Light Scattering, 2017, 29(4): 372.