透射式纹影摄影成像灵敏度分析

王文悦; 董睿歌; 杨文龙

doi:doi:10.3788/LOP55.111102

激光与光电子学进展, 2018, 55 (11): 111102, 网络出版: 2019-08-14

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Sensitivity Investigation of Schlieren Imaging System

王文悦 ^**董睿歌杨文龙 ^*

作者单位

哈尔滨理工大学理学院, 黑龙江哈尔滨 150000

基本信息

DOI:	10.3788/LOP55.111102
中图分类号:	TB811
栏目:	成像系统
项目基金:	--
收稿日期:	2018-03-27
修改稿日期:	2018-05-06
网络出版日期:	2019-08-14
通讯作者:	王文悦 (942330720@qq.com), 杨文龙 (wlyang@hrbust.edu.cn)
备注:	--

王文悦, 董睿歌, 杨文龙. 透射式纹影摄影成像灵敏度分析[J]. 激光与光电子学进展, 2018, 55(11): 111102. Wenyue Wang, Ruige Dong, Wenlong Yang. Sensitivity Investigation of Schlieren Imaging System[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2018, 55(11): 111102.