基于相移和颜色分光的电子散斑干涉瞬态三维变形测量方法

孙流星; 于瀛洁

doi:doi:10.3969/j.issn.1005-5630.2016.01.005

光学仪器, 2016, 38 (1): 20, 网络出版: 2016-03-24

基于相移和颜色分光的电子散斑干涉瞬态三维变形测量方法

Transient 3D deformation measurement method by color splitting based on phase shift and ESPI

孙流星 ^1,2,*于瀛洁 ¹

作者单位

¹ 上海大学精密机械工程系,上海 200072

² 上海仪电物理光学仪器有限公司,上海 201199

补充材料

孙流星, 于瀛洁. 基于相移和颜色分光的电子散斑干涉瞬态三维变形测量方法[J]. 光学仪器, 2016, 38(1): 20. SUN Liuxing, YU Yingjie. Transient 3D deformation measurement method by color splitting based on phase shift and ESPI[J]. Optical Instruments, 2016, 38(1): 20.