光学学报, 2016, 36 (9): 0911003, 网络出版: 2016-08-18   

紫外成像光谱仪干涉图零级漂移现象分析

Zero-Order Drift of Interferograms in Ultraviolet Imaging Spectrometer
作者单位
1 北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室, 北京 100081
2 北京理工大学深圳研究院, 广东 深圳 518057
基本信息
DOI: 10.3788/aos201636.0911003
中图分类号: TH744
栏目: 成像系统
项目基金: 国家自然科学基金(61575020)、国家科技支撑计划(2012BAK02B04)、公安部重点研究计划(2010ZDYJBJLG006)、广东省科技计划(2015A020214004)
收稿日期: 2016-01-22
修改稿日期: 2016-04-25
网络出版日期: 2016-08-18
通讯作者: 吕航 (luh@bit.edu.cn)
备注: --

吕航, 廖宁放, 吴文敏, 曹玮亮, 王佳佳, 程灏波. 紫外成像光谱仪干涉图零级漂移现象分析[J]. 光学学报, 2016, 36(9): 0911003. Lü Hang, Liao Ningfang, Wu Wenmin, Cao Weiliang, Wang Jiajia, Cheng Haobo. Zero-Order Drift of Interferograms in Ultraviolet Imaging Spectrometer[J]. Acta Optica Sinica, 2016, 36(9): 0911003.

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