光学学报, 2016, 36 (9): 0911003, 网络出版: 2016-08-18
紫外成像光谱仪干涉图零级漂移现象分析
Zero-Order Drift of Interferograms in Ultraviolet Imaging Spectrometer
基本信息
DOI: | 10.3788/aos201636.0911003 |
中图分类号: | TH744 |
栏目: | 成像系统 |
项目基金: | 国家自然科学基金(61575020)、国家科技支撑计划(2012BAK02B04)、公安部重点研究计划(2010ZDYJBJLG006)、广东省科技计划(2015A020214004) |
收稿日期: | 2016-01-22 |
修改稿日期: | 2016-04-25 |
网络出版日期: | 2016-08-18 |
通讯作者: | 吕航 (luh@bit.edu.cn) |
备注: | -- |
吕航, 廖宁放, 吴文敏, 曹玮亮, 王佳佳, 程灏波. 紫外成像光谱仪干涉图零级漂移现象分析[J]. 光学学报, 2016, 36(9): 0911003. Lü Hang, Liao Ningfang, Wu Wenmin, Cao Weiliang, Wang Jiajia, Cheng Haobo. Zero-Order Drift of Interferograms in Ultraviolet Imaging Spectrometer[J]. Acta Optica Sinica, 2016, 36(9): 0911003.